Metrologie – AFM Icon Bruker
Description Technique
X-Y gamme de balayage : 90μm x 90μm typique , 10μm
Z gamme : (X-Y-Z) <0.5% typique
Taille de l'échantillon/support : Up to 8”
Resolution : Up to 128-1024 pix/line
AFM modes : Standard: ScanAsyst, PeakForce Tapping, TappingMode (air), Contact Mode, phase imaging, MFM,Force Spectroscopy, Force Volume, EFM, Force Spectroscopy; Optional: PeakForce QNM,TappingMode (fluid), contactMode (fluid), peakforce tapping (fluid)
Précision : 0,1 nm
Surface mini : 50 nm²
Surface maxi : 100 µm²
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